La investigación en tecnologías y desarrollo de productos a escala micro y nanométrica es un campo de gran interés en la actualidad. Por eso, se hace necesario conocer herramientas que permitan estudiar los materiales a estas escalas.
El objetivo del curso es formar adecuadamente a los alumnos, tanto a nivel teórico como práctico, en el uso de técnicas de microscopía electrónica de barrido de alta resolución.
Se pretende que, al finalizar el curso, los alumnos sean capaces de manejar, de modo autónomo y a nivel básico, el microscopio de última generación FESEM FEI TENEO.
El curso es eminentemente práctico, conteniendo un total de 12 horas demostrativas en el microscopio.

No existen requisitos de acceso.